公司动态

当前所在位置:网站首页 > 公司动态

密封性测试仪器校正的理论基础

密封性测试仪器校正的理论基础

进口泄漏测试仪:

cts气密检测仪,ATEQ测试仪,cosmo气密检测仪

国产检漏仪:

PLUS密封测试仪

如何校准?

校正的目的是确定两个值:

-不漏产品和泄漏产品对应的压降值

-压降与泄漏量的曲线找出来

第一步是测量不漏产品的压降值,这个值会被储存当作是"No Leak Loss"的值,这压降代表着工件没有漏。在下一步之前有一段延时,这段时间可以让工件回复到原始的状态。*二次的校正是安装校正过的标准漏孔到管路中,所测量的总压降值由工件和标准漏孔共同产生。计算**次与*二次因为标准漏孔所致的压降的不同,仪器就会得到压降和泄漏量的关系。

这个公式的容积是指测试工件和管路中的容积。

Volume x pressure loss x 60

LR = --------------------------------------

test time x 14.7

Volume x 60 Orifice leak value x test time

Constant = -------------- = -------------------------------------------

14.7 Calibrated leak loss - No leak loss

这个公式应该维持一个常数不会改变,仪器就会去计算压降和不合格泄漏

量的关系。

Reject Rate x Test time

Reject loss = ----------------------------- + No leak loss

计算出来的值就被储存为不合格压降值,它是用来判定工件合格与否。在

动态的生产过程中,实际的压降值是会因为测试条件(温度、工件的弹性

系数和材料的吸收等)随时间变化而改变。测试条件的改变造成好的工件

的泄漏率会随时间漂移而略大于零。"Process Drift Correction"这个功能会自

动去校正这些变化。

 


plas321.b2b168.com/m/

返回目录页